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X射线衍射分析仪
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发布日期:2019-10-30
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详细介绍

日本理学SmartLab产品介绍
SmartLabX射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

技术参数
1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学专利)
4、测角仪配程序式可变狭缝
5、自动识别所有光学组件、样品台(理学专利)
6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学专利)
7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)
8、多用途薄膜测试组件
9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件
10、In-Plane测试组件(理学独有)
11、入射端Ka1光学组件
12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)
13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线)
14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance(专利)

主要特点

可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有:
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析


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