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半导体参数测试仪
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发布日期:2019-10-30
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详细介绍

半导体分立器件的参数测量,I-V,c-v特性测量

电压:-200V到200V,

精度:2uV;

电流:-1A到1A,

精度:10fA;

频率范围:1KHz到1MHz.


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